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Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀 使用 4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領xian電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

Raytek® Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計 雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續非接觸式溫度監測的新一代的性能和創新，并廣泛應用于OEM應用和制造工藝中。 MI3紅外測溫儀是一個由一個微型傳感頭和一個獨立的通訊電子系統兩部分組成的測溫系統。微型傳感頭可安裝在大多數系統中，并在性能上優于更大體積的傳感器，使雷泰MI3在同級別紅外溫度傳感器中較有優勢。

ThermoView TV40工業固定式熱成像系統紅外 ThermoView TV40是一款高性能的工業固定式熱成像系統，通過提供紅外和可見光視頻流，從而能夠將溫度數據可視化，幫助加深您對工藝過程的了解。TV40能夠全面地提供集成化的溫度控制、監控和數據存檔解決方案。

福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測溫儀 雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業環境中使用，并可以測得運動物體的準確溫度圖像。這種多點測量由一個旋轉的光學系統來實現的，它可以在90°視野范圍內，在一條直線上收集高達1024點的紅外輻射結果。

福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用 Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設計用于滿足眾多工業應用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發電廠運行的苛刻的高溫環境。 關鍵指標 溫度量程： 700 至 3000ºC (1292 至 5432ºF) 400 至 2000ºC (752 至 3632ºF) 距離系數比(D:S)：250

日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列 分光光譜儀種類 MCPD-9800：高動態范圍分光 MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀 MCPD-7700：高感度分光

日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外） 區域傳感器的安全機制 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義

德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀 GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是*大的GDOES光譜儀，非常適合研發任務。基于模塊化概念，可以設想多種選項組合，因此可以為您的應用實現最佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導電樣品。GDA 750 HR也用于分析不導電樣品。